Автореферат
Автореферати дисертацій arrow Електроніка. Обчислювальна техніка arrow Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури
Меню
Головна сторінка
Реклама
Автореферати дисертацій
Бібліотечна справа
Біологічні науки
Будівництво
Воєнна наука. Військова справа
Гірнича справа
Держава та право. Юридичні науки
Економіка. Економічні науки
Електроніка. Обчислювальна техніка
Енергетика
Загальні роботи по техніці
Загальнонаукове знання
Історія. Історичні науки
Культура. Наука. Освіта
Легка промисловість
Математика. Механіка
Медицина. Медичні науки
Мистецтво. Мистецтвознавство
Науки про землю
Політика. Політичні науки
Природничі науки в цілому
Релігія
Сільське та лісове господарство
Соціологія. Демографія
Технологія металів. Машинобудування
Транспорт
Фізика. Астрономія
Філологічні науки
Філософські науки. Психологія
Хімічна технологія. Харчове виробництво
Хімічні науки
Художня література
Реклама


Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури

Анотації 

Савчук Т.О. Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури.- Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наукза спеціальністю 05.11.16 - Інформаційно-вимірювальні системи. - Вінницький державний технічний університет, Вінниця, 1999.

   Дисертаційна робота присвячена питанням удосконалення й подальшого розвитку методів й алгоритмів бездефектного контролю цифрових об’єктів дослідження за рахунок розробки ефективних машинних процедур пошуку дефектів й апаратних засобів тестування, що спрямовані на збільшення глибини діагностування, а також реконфігурації структури об’єкту дослідження на час проведення діагностичного експерименту при недопущенні вторинних дефектів. В дисертації розроблено моделі процесу непошкоджуючого тестування цифрових приладів, а також методи та алгоритми діагностування, що дозволяють прискорити процес бездефектного тестування всього цифрового пристрою. Запропоновано алгоритм аналізу тестопридатності цифрових пристроїв. Основні результати роботи знайшли впровадження в проектуванні нових типів цифрових пристроїв із покращенною спроможністю до діагностування.
   Ключові слова: цифровий пристрій, покомпонентне діагностування, бездефектний контроль, метод, алгоритм, реконфігурація структури об’єкту дослідження.

Savchuk Т. А. Мethods and algorithms of component-wise diagnosing of digital devices, which are based on reconfiguration of their structure. - Manuscript.

Thesis on competition of a scientific degree of the candidate of engineering science on a speciality 05.11.16-Information-measure systems.-Vinnitsa state technical university, Vinnitsa, 1999.

   Dissertation is devoted to problems of improvement both further development of methods and algorithms of the flawiess control of digital objects of research at the expense of development of effective machine procedures of searching of defects, hardware of testing directed on increase of depth of diagnosing and also reconfiguration of their structure on time of realization diagnostic experiment with inadmitance secondary defects. In a thesis the models of process of not destroying testing of digital devices are developed, and also methods and algorithms of diagnosing, which allow to speed up process of flawiess diagnosing of all digital device. The algorithm of the test-suitable analysis of digital devices is offered. The basic results of work have found industrial application in designing new types of digital devices with the improved ability to diagnosing.
   Key words: the digital device, the on-component diagnosing, the flawiess control, technique, algorithm, reconfiguration of the structure of research object.

Савчук Т.А. Методы и алгоритмы покомпонентного диагностирования цифровых устройств, которые основаны на реконфигурации их структуры.- Рукопись.

Диссертация на соискание научной степени кандидата технических наук по специальности 05.11.16 - Информационно-измерительные системы. - Винницкий государственный технический университет, Винница, 1999.

   Диссертационная работа посвящена вопросам усовершенствования и дальнейшего развития методов и алгоритмов бездефектного контроля цифровых объектов исследования за счет разработки эффективных машинных процедур поиска дефектов и аппаратных средств тестирования, направленных на увеличение глубины диагностирования, а также реконфигурации структуры объекта исследования на время проведения диагностического експеримента при недопущении вторичных дефектов. В диссертации предложена математическая модель, которая описывает теплофизические процессы неразрушающего тестирования цифровых устройств. С целью оптимизации процесса диагностирования по времени установлено, что время реализации программ тестового контроля всего цифрового устройства может быть уменьшена за счет определенного упорядочивания векторов тестовых матриц компонентов диагностируемого цифрового объекта. Предложеный метод коррекции программ контроля компонентов цифровых устройств позволяет сократить число вынужденных периодов охлаждения тестируемых микросхем. В основе метода лежит операция выделения подмножества согласованных тестовых векторов, совокупность которых, фактически, определяет тестопригодность тестовой матрицы того или иного компонента анализируемой схемы. В диссертационной работе разработан метод поиска векторов установочных наборов, реализация которых обеспечивает бездефектное наведение тестовых сигналов во внутренние контрольные точки цифрового объекта исследования. В основе метода лежит модифицированный p -алгоритм, целью которого является нахождение подмножества ближайших внутренних узлов цифрового устройства для реализации условий бездефектного наведения тестовых сигналов на входы компонента проверяемого устройства. Разработан метод реконфигурации структуры цифровых устройств на время проведения диагностического експеримента с целью упрощения и ускорения процессов тестового поиска места дефекта. Совместно с реализацией условий электрической защиты элементов, предлагаемая методика обеспечивает формирование искусственных фрагментов схем для тестовых проверок устройств за счет введения дополнительных искусственных каналов передачи информации. Эффективность метода показана на примере формирования генерирующих структур в цифровом объекте. Предложен алгоритм анализа тестопригодности компонетных структур цифровых устройств, который позволяет на основании анализа сложности реализации бездефектного тестового контроля цифровых устройств принимать решение о применении в каждом конкретном случае наиболее эффективного метода покомпонентного диагностирования относительно систем рассматриваемого класса. Основные результаты работы нашли применение в проектировании новых типов цифровых устройств с улучшенной способностью к диагностированию.
   Ключевые слова: цифровое устройство, покомпонентное диагностирование, бездефектный контроль, методика, алгоритм, реконфигурация структуры объекта исследования.

Скачати автореферат дисертації безкоштовно (повна версія)
Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури

 
< Попередня   Наступна >

Всі права на опубліковані матеріали належать їх авторам. Матеріали розміщено виключно для ознайомлення.

Автореферати українських дисертацій. Скачай безкоштовно!